Lattice tilt and strain mapped by X-ray scanning nanodiffraction in compositionally graded SiGe/Si microcrystals

• Název česky: Mřížkový sklon a deformace mapované rtg skenováním pomocí nanodifrakce v kompozičně gradovaných SiGe/ Si mikrokrystalech
• Autoři: MEDUŇA Mojmír; ISA Fabio; JUNG Arik; MARZEGALLI Anna; ALBANI Marco; ISELLA Giovanni; ZWEIACKER Kai; MIGLIO Leo; VON KÄNEL Hans
• Rok publikování: 2018
• Druh: Článek v odborném periodiku
• Časopis / Zdroj: Journal of Applied Crystallography
• Fakulta / Pracoviště MU: Přírodovědecká fakulta
• www: https://onlinelibrary.wiley.com/iucr/doi/10.1107/S1600576718001450
• Doi: http://dx.doi.org/10.1107/S1600576718001450
• Obor: Fyzika pevných látek a magnetismus
• Klíčová slova: scanning X-ray nanodiffraction; lattice bending; graded SiGe microcrystals; strain relaxation
• Popis: Skenovací rentgenová nanodifrační technika se používá k rekonstrukci třírozměrné (3D) distribuce mřížové deformace a koncentrace Ge v kompozičně gradovaných mikrokrystalech Si1-xGex epitaxiálně rostlých na pilířích Si.

Související projekty

• CEITEC - středoevropský technologický institut
• CEITEC Nano+