Strain in buried self-assembled SiGe wires studied by grazing-incidence x-ray diffraction

Varování

Publikace nespadá pod Ústav výpočetní techniky, ale pod Přírodovědeckou fakultu. Oficiální stránka publikace je na webu muni.cz.

Autoři	ROCH Tomáš HOLÝ Václav
Rok publikování	2002
Druh	Článek v odborném periodiku
Časopis / Zdroj	Physical Review B
Fakulta / Pracoviště MU	Přírodovědecká fakulta
Citace
Obor	Fyzika pevných látek a magnetismus
Klíčová slova	Strain in buried self-assembled SiGe wires studied by grazing-incidence x-ray diffraction
Popis	Strain in buried self-assembled SiGe wires studied by grazing-incidence x-ray diffraction
Související projekty:	Procesy samouspořádání rozhraní při epitaxním růstu polovodičových supermřížek Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur