High-Resolution X-Ray Scattering From Thin Films to Lateral Nanostructures

Varování

Publikace nespadá pod Ústav výpočetní techniky, ale pod Přírodovědeckou fakultu. Oficiální stránka publikace je na webu muni.cz.

Název česky	Rtg rozptyl s vysokýzm rozlišením na tenkých vrstvách a laterálních nanostrukturách
Autoři	HOLÝ Václav PIETSCH Ullrich BAUMBACH Tilo
Rok publikování	2004
Druh	Odborná kniha
Fakulta / Pracoviště MU	Přírodovědecká fakulta
Citace
Popis	Rtg rozptyl s vysokýzm rozlišením na tenkých vrstvách a laterálních nanostrukturách
Související projekty:	Procesy samouspořádání rozhraní při epitaxním růstu polovodičových supermřížek Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur