Local wing tilt analysis of laterally overgrown GaN by x-ray rocking curve imaging

• Název česky: Lokální analýza rozorientace křídel laterálně přerostlých GaN zobrazením rocking křivek
• Autoři: LÜBBERT D.; BAUMBACH T.; MIKULÍK Petr; PERNOT P.; HELFEN L.; KÖHLER R.; KATONA T.M.; KELLER S.; KATONA T.M.; DENBAARS S.P.
• Rok publikování: 2005
• Druh: Článek v odborném periodiku
• Časopis / Zdroj: Journal of physics D: Applied physics
• Fakulta / Pracoviště MU: Přírodovědecká fakulta
• www: http://www.sci.muni.cz/~mikulik/Publications.html#LubbertBaumbachMikulik-JPD-2005
• Obor: Fyzika pevných látek a magnetismus
• Klíčová slova: lattice tilt; diffraction; X-ray diffraction; GaN; ELO
• Popis: Referujeme o nejnovějších výsledcích v prostorově rozlišené rtg difrakci, rozšiřující techniku zvanou zobrazení rocking křivkami na rozlišení 1--2 um. Potenciál metody je demonstrován na sérii GaN vzorků připravených epitaxním přerostením (ELO). Kvantitativní informace o krystalografické rozorientaci a kvalitě mřížky může být získána přímým zobrazením s vysokým laterálním rozlišením. Srovnáváme výsledky ze dvou vzorků ELO-GaN rostlých na různých substrátech. Lokální kvalita mřížky je analyzována pomocí šířky píků difrakčních profilů zaznamenaných jednotlivými pixely na kameře. Rozšíření šířky píků měřené laboratorní rtg difrakcí je interpretováno, a zjištěno, že neznačí degradaci v lokální kvalitě mřížky.

Související projekty

• Fyzikální a chemické vlastnosti pokročilých materiálů a struktur
• Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur