Micro-imaging performance of multilayers used as monochromators for coherent hard X-ray synchrotron radiation

• Název česky: Výkon mikrozobrazování multivrstev používaných jako monochromátorů pro koherentní tvrdé synchrotronové záření
• Autoři: RACK A.; WEITKAMP T.; RIOTTE M.; RACK T.; DIETSCH R.; HOLZ T.; KRÄMER M.; SIEWERT F.; MEDUŇA Mojmír; MORAWE Ch.; CLOETENS P.; ZIEGLER E.
• Rok publikování: 2010
• Druh: Článek v odborném periodiku
• Časopis / Zdroj: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
• Fakulta / Pracoviště MU: Přírodovědecká fakulta
• www: http://spiedigitallibrary.org/proceedings/resource/2/psisdg/7802/1/78020M_1?isAuthorized=no
• Doi: http://dx.doi.org/10.1117/12.858355
• Obor: Fyzika pevných látek a magnetismus
• Klíčová slova: Coherence; Multilayer mirrors; Synchrotron radiation; X-ray imaging; X-ray monochromators; X-ray optics; X-ray phase contrast
• Popis: Prezentujeme systematickou studii ve které byly charakterizovány multivrstvy s různým složením (W/Si, Mo/Si, Pd/B4C), periodou (od 2.5 do 5.5 nm) a množstvím vrstev.

Související projekty

• Fyzikální a chemické vlastnosti pokročilých materiálů a struktur