Optical properties of thin films of poly(methyl-phenylsilylene)

Varování

Publikace nespadá pod Ústav výpočetní techniky, ale pod Přírodovědeckou fakultu. Oficiální stránka publikace je na webu muni.cz.

Autoři	NAVRÁTIL Karel ŠIK Jan HUMLÍČEK Josef NEŠPŮREK S.
Rok publikování	1999
Druh	Článek v odborném periodiku
Časopis / Zdroj	Optical Materials
Fakulta / Pracoviště MU	Přírodovědecká fakulta
Citace
Obor	Fyzika pevných látek a magnetismus
Popis	We report the results of optical studies of thin films of poly(methyl-phenylsilylene) prepared on single-crystalline silicon and fused quartz substrates using the casting and spin coating technology. From near-normal incidence reflectance, we have determined the spectral dependence of the complex dielectric function and the complex refractive index in the energy interval from 1 to 7 eV.
Související projekty:	Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur