Diffuse x-ray reflectivity from self-assembled ripples with superimposed roughness in Si/Ge superlattices

Varování

Publikace nespadá pod Ústav výpočetní techniky, ale pod Přírodovědeckou fakultu. Oficiální stránka publikace je na webu muni.cz.

Autoři	HOLÝ Václav MEDUŇA Mojmír ROCH Tomáš BAUER Guenther
Rok publikování	2002
Druh	Článek v odborném periodiku
Časopis / Zdroj	Semicond. Sci. Technol.
Fakulta / Pracoviště MU	Přírodovědecká fakulta
Citace
Obor	Fyzika pevných látek a magnetismus
Klíčová slova	Diffuse x-ray reflectivity from self-assembled ripples with superimposed roughness in Si/Ge superlattices
Popis	Diffuse x-ray reflectivity from self-assembled ripples with superimposed roughness in Si/Ge superlattices
Související projekty:	Procesy samouspořádání rozhraní při epitaxním růstu polovodičových supermřížek Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur