X-ray grazing incidence study of inhomogeneous strain relaxation in Si/SiGe wires

Varování

Publikace nespadá pod Ústav výpočetní techniky, ale pod Přírodovědeckou fakultu. Oficiální stránka publikace je na webu muni.cz.

Autoři	HOLÝ Václav
Rok publikování	2003
Druh	Článek v odborném periodiku
Časopis / Zdroj	Nuclear Instruments & Methods in Physics Research A
Fakulta / Pracoviště MU	Přírodovědecká fakulta
Citace
Obor	Fyzika pevných látek a magnetismus
Klíčová slova	X-ray grazing incidence study of inhomogeneous strain relaxation in Si/SiGe wires
Popis	X-ray grazing incidence study of inhomogeneous strain relaxation in Si/SiGe wires
Související projekty:	Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur