Temperature dependence of ellipsometric spectra of poly(methyl-phenylsilane)

Varování

Publikace nespadá pod Ústav výpočetní techniky, ale pod Přírodovědeckou fakultu. Oficiální stránka publikace je na webu muni.cz.

Název česky	Teplotní závislost elipsometrických spekter poly(methyl-phenylsilanu)
Autoři	BONAVENTUROVÁ ZRZAVECKÁ Olga NEBOJSA Alois NAVRÁTIL Karel NEŠPŮREK Stanislav HUMLÍČEK Josef
Rok publikování	2004
Druh	Článek v odborném periodiku
Časopis / Zdroj	Thin Solid Films
Fakulta / Pracoviště MU	Přírodovědecká fakulta
Citace
Obor	Fyzika pevných látek a magnetismus
Klíčová slova	temperature; ellipsometric spectra; poly(methyl-phenylsilane);
Popis	Souhrnná studie teplotní závislosti UV-VIS elipsometrických spekter tenkých vrstev poly(methyl-phenylsilanu). Byl nalezen práh nevratných změn optické odezvy na 373 K a dále průměrný teplotní posuv nejnižšího excitonového pásu v oblasti vratných změn. Efekt žíhání pod a nad 373 K byl studován při nízkém a vysokém stupni UV expozice.
Související projekty:	Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur