Mechanical properties of amorphous and nanocrystalline silicon thin films on flexible substrates

Varování

Publikace nespadá pod Ústav výpočetní techniky, ale pod Pedagogickou fakultu. Oficiální stránka publikace je na webu muni.cz.
Název česky Mechanické vlastnosti amorfních a nanokrystalických tenkých vrstev křemíku na flexibilních substrátech
Autoři

BURŠÍKOVÁ Vilma SLÁDEK Petr SŤAHEL Pavel

Rok publikování 2005
Druh Článek ve sborníku
Konference NENAMAT International Conference Proceedings NANO05
Fakulta / Pracoviště MU

Pedagogická fakulta

Citace
Obor Fyzika pevných látek a magnetismus
Klíčová slova Mechanical properties; Amorphous silicon; Nanocrystalline Silicon
Popis DSI technika je jedna z nejvhodnějších metod pro sledování mechanických vlastností tenkých vrstev. Byla použita pro studioum tenkých vrstev amorfního a nanokrystalického křemíku deponovaného na flexibilních substrátech.
Související projekty:

Používáte starou verzi internetového prohlížeče. Doporučujeme aktualizovat Váš prohlížeč na nejnovější verzi.

Další info