Informace o projektu
Sledování teplotní stability vrstevnatých systémů vysokorozlišujícími metodami rtg difrakce a optické reflexe rtg záření při žíhání in situ
- Kód projektu
- GA202/98/0569
- Období řešení
- 1/1998 - 1/2000
- Investor / Programový rámec / typ projektu
-
Grantová agentura ČR
- Standardní projekty
- Fakulta / Pracoviště MU
- Přírodovědecká fakulta
Cílem projektu je sledovat teplotní stabilitu vrstevnatých systémů, interdifuzi, změnu drsnosti rozhraní a neelastické relaxace za použití vysokorozlišujících rentgenových metod in situ při zvýšené teplotě. Hlavní pozornost bude věnována prvním stadiím interdifuze a relaxace multivrstev Nb/Si a Fe/Si, při kterých struktury začínají ztrácet požadované elektrické parametry (supravodivost, magnetoresistivita). Rtg měření budou doplněna metodou TEM. Výsledky strukturní analýzy budou korelovány s elektrickými měřeními odporu za nízkých teplot (Nb/Si) a odporu v magnetickém poli (Fe/Si) a s technilogií přípravy multivrstev. V rámci projektu bude navržena a sestavena vysokoteplotní komůrka, která umožní měření rtg difrakce a reflexe za zvýšené teploty ve vakuu lepším než 10-5 torr.
Publikace
Počet publikací: 6
2001
-
C-N/MeN nanocomposite coatings, deposition and testing of performance
Surface and coating technology, rok: 2001, ročník: 142, vydání: 142
-
Interdiffusion in superconducting Nb/Si multilayers
Proceedings of 4th International Symposium on Metallic Multilayers, June 2001, rok: 2001
-
Nanocomposite Coatings Used as Hard Solid Lubricants
Proceedings of the International Conference on Metalurgical Coatings and Thin Films, rok: 2001
-
Thermal stability of partially crystalline Nb/Si multilayers
J. Phys. D: Appl. Phys., rok: 2001, ročník: 34, vydání: 10A
2000
-
Interdiffusion in amorphous Nb/Si multilayers
Materials Letters, rok: 2000, ročník: 45, vydání: 2
1999
-
Thermal stability of amorphous Nb/Si multilayers studied by x-ray reflection
Bulletin Krystalografické společnosti Materials Structure, rok: 1999, ročník: 6, vydání: 1